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[发明专利]一种用于MCU晶振修调的控制方法及系统-CN202010461551.3在审
发明人：钱斌;徐琴;孙乾程;刘业凡 -专利权人：中电海康无锡科技有限公司
申请日： 2020-05-27 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本发明涉及芯片修调技术领域，具体公开了一种用于MCU晶振修调的控制方法，其中，包括：向待修调的MCU发送修调控制信号，以启动待修调的MCU进入频率修调模式；按照预设顺序依次向待修调的MCU设置匹配电容；获取每次匹配电容对应的待修调的MCU的输出频率；选择待修调的MCU的输出频率与预设标准频率的差值的最小者对应的匹配电容的电容值作为补偿电容的电容值，得到补偿电容；将补偿电容设置在待修调的MCU内部。本发明还公开了一种用于MCU晶振修调的控制系统。本发明提供的用于MCU晶振修调的控制方法可以减少PCB板级的电容成本，节省PCB的元件布局空间，实现板级MCU晶振输出频率的自动修调，无需人工手动修调，节约大量人工修调时间。
一种用于 mcu 晶振修调控制方法系统

[发明专利]一种实时时钟温度补偿系统及方法-CN201210480377.2有效
发明人：郭章其;黄达良;田晓红 -专利权人：百利通科技（扬州）有限公司
申请日： 2012-11-22 - 公布日： 2013-03-20 - 主分类号： G06F1/14 文献下载
摘要：本发明公开了一种实时时钟温度补偿系统，该系统包括修调寄存器、补偿间隔寄存器、低相位误差修调机制控制器、晶振和频率修调电路，修调寄存器，用于存储增减脉冲标志位F和修调数据M，补偿间隔寄存器，用于保存补偿间隔时间值T，与所述修调寄存器相连的低相位误差修调机制控制器，在补偿时间间隔T内，通过判断当前状态下对应补偿的秒时钟，并根据修调数据的大小，输出当前秒时钟的修调值m，晶振，用于产生时钟频率，与时钟发生器和低相位误差修调机制控制器相连的频率修调电路，当该频率修调电路接收到当前秒时钟的修调值m时，根据增减脉冲标志位F，对晶振输出时钟进行增减脉冲操作，最终输出精准低相位误差的1Hz时钟。
一种实时时钟温度补偿系统方法

[发明专利]一种基于虚拟仪器的数模转换器自动修调系统及修调方法-CN202310213511.0在审
发明人：李东亢;谭博;张铁良;张鑫星;王川中;郑子岳;吴祖亚;李晓博 -专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
申请日： 2023-03-01 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： H03M1/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于虚拟仪器的数模转换器自动修调系统及修调方法，修调系统包括电源、码型发生器、万用表、待修调DAC评估板、上位机；待修调DAC评估板包括待修调DAC芯片、晶振、时钟源芯片、基准源电路、继电器该修调方法通过上位机控制码型发生器产生修调DAC芯片需要的数据码，在上位机控制下采集DAC芯片输出的电压，根据采集到的输出电压计算修调码，通过码型发生器将修调码反馈到DAC对应的修调寄存器，从而实现修调，并通过计算需要施加修调电压的归一化均方差来判断修调效果，直到满足修调要求，本发明能有效地提高数模转换器精度和线性度。
一种基于虚拟仪器数模转换器自动系统方法

[实用新型]一种线性激光调阻机-CN202020817378.1有效
发明人：吴斌;杨国锋;张志杰;虎将 -专利权人：西安微控光电科技有限公司
申请日： 2020-05-17 - 公布日： 2021-02-05 - 主分类号： B23K26/38 文献下载
摘要：本实用新型公开一种线性激光调阻机，包括工控机、激光控制系统、调阻箱、运动控制系统和图像采集系统，所述激光控制系统包含打标卡、激光器、振镜X轴、振镜Y轴和聚焦场镜，所述运动控制系统包含运动控制卡与多轴导轨，所述工控机与激光控制系统、调阻箱、运动控制系统和图像采集系统电连接，所述调阻箱与激光控制系统电连接，所述打标卡与激光器、振镜X轴和振镜Y轴电连接，所述调阻箱与电阻电连接。该线性激光调阻机通过激光控制系统控制激光启停，同时通过振镜X轴与振镜Y轴将激光输出在电阻上进行修刻，通过图像采集系统来监控修刻位置，通过调阻箱测量待调线性电阻修刻位置阻值控制激光控制系统启停激光，同时通过运动控制系统控制多轴导轨带动电位器移动到下一个修刻位置，如此反复来修调电阻的线性精度。
一种线性激光调阻机

[发明专利]芯片参数测试值的修调方法-CN202211512253.8在审
发明人：王磊 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2022-11-29 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种芯片参数测试值的修调方法中，芯片参数测试值的修调方法包括：步骤S1：设置晶圆上不同区域的芯片参数测试值的档位；步骤S2：根据晶圆上待测芯片周围的芯片的档位使用卷积操作计算待测芯片初始修调档位；步骤S3：测试待测芯片的参数值，根据待测芯片初始修调档位对参数测试值进行修调。本发明可以根据待测芯片周围芯片的档位实时地计算待测芯片初始修调档位，当晶圆上的多个芯片的工艺不均匀时，也准确地设定了修调档位。
芯片参数测试方法

[发明专利]一种晶振调压调频电路和方法-CN202010920685.7有效
发明人：薛代彬;赵梓槟;孙梁飞;林楠 -专利权人：上海鸿晔电子科技股份有限公司
申请日： 2020-09-04 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： H03L5/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种晶振调压调频电路和方法，通过设置第一数模转换模块、至少一个第二数模转换模块和加法电路，由控制模块控制第一数模转换模块的输出电压和第二数模转换模块的输出电压并将其通过加法电路计算后输出到待调晶振，以实现对待调晶振电压的调节。由于待调晶振频率的变化是跟随其电压的变化而变化的，因此，在控制第一数模转换模块和第二数模转换模块的输出电压时其输出频率也得到相应的调整，且经过加法电路输出到待调晶振，可以保证待调晶振频率的精度等级至少能达到第一数模转换模块和因而，实现了对待调晶振输入电压的调节，以及能够满足待调晶振频率调节的精度等级要求。
一种调压调频电路方法

[发明专利]晶圆上芯片参数的修调方法-CN201210499889.3有效
发明人：辛吉升;桑浚之 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2012-11-29 - 公布日： 2017-06-06 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆上芯片参数的修调方法，包括以下步骤第一步，将测试晶圆上的所有芯片分为多个测试单位；第二步，通过探针卡测量某一测试单位内各芯片需要修调的某一参数，得到该测试单位内全部芯片的该参数的本征值；第三步，对该测试单位内全部芯片的参数本征值取平均值，将该参数平均值作为该测试单位内所有芯片的修调目标值，同时写到芯片中供芯片在后续的测试以及正常工作中使用，从而完成测试晶圆上某一测试单位的修调；第四步，重复第二步至第三步，直至完成整枚测试晶圆上全部测试单位的修调。本发明能够在保证大规模量产的同时提高修调的准确度。
晶圆上芯片参数方法

[发明专利]修调电阻控制装置及使用该装置的晶圆测试系统-CN201310510848.4有效
发明人：王钊 -专利权人：无锡中星微电子有限公司
申请日： 2013-10-25 - 公布日： 2014-01-22 - 主分类号： H01L23/525 文献下载
摘要：本发明提供一种修调电阻控制装置及使用该装置的晶圆测试系统，其中，所述修调电阻控制装置包括：多个依次相连的电压源，相邻两个电压源之间通过各自的相同电极相连；多个依次串联的电容，每个电容与其对应的电压源并联；多个修调开关和多个探针；其中相连接的每两个电容的中间节点通过一个修调开关与一个探针相连，最外侧的电容的未与其他电容连接的连接端通过一个修调开关与一个探针相连。与现有技术相比，本发明中的修调电阻控制装置及其使用该装置的晶圆测试系统包括N个依次相连的电压源且相邻两个电压源之间通过各自的相同电极相连，使其可以同时熔断修调电阻中的多个熔丝，从而缩短晶圆测试时间。
电阻控制装置使用测试系统

[发明专利]晶圆参数的修调方法-CN202010116393.8有效
发明人：王善屹 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2020-02-25 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种晶圆参数的修调方法，包括：晶圆参数设置M个晶圆参数档位值；将M个晶圆参数档位值平均分为N个档位区间，在每个所述档位区间内选取一个所述晶圆参数档位值，获得N个晶圆参数档位值；分别测量N个所述晶圆参数档位值对应的N个晶圆参数量测值；本发明在N个档位区间内均选取晶圆参数档位值，获得N个晶圆参数档位值，不再进行全档位所有档位扫描寻档，降低寻档的个数及步骤，相应降低修调的时间；N个档位区间内均取样，取样有代表性，以覆盖所有晶圆参数档位值的非线性档位；同时，根据所述最接近的晶圆参数量测值与所述晶圆参数目标值的接近程度确定修调的晶圆参数档位值，以确保修调的精度。
参数方法

[发明专利]一种修调方法-CN201410842344.7在审
发明人：辛吉升;谢晋春 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2014-12-29 - 公布日： 2015-04-22 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种修调方法，包括步骤：通过技术判断，分析出测试单位是属于晶圆的中间区域，还是周边区域，从而使中间区域的修调目标值和周边区域的修调目标值能够分开。通过本发明，可以将周边区域测试单位的修调目标值和中间区域的修调目标值进行分别设定，这种设定真正考虑到了晶圆的周边和中心两个明显不同区域所具备的不同特征，将两个区域内部的每个参数修调的目标值各自统一了。
一种方法

[发明专利]谐振结构频率裂解辨识与修调方法及平台-CN202211363671.5有效
发明人：孙江坤;张勇猛;余升;肖定邦;吴学忠;席翔;卢坤;石岩;李青松 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01C19/5776 文献下载
摘要：本发明公开了一种谐振结构频率裂解辨识与修调方法及平台，该方法包括：通过控制信号使陀螺工作在速率积分模式下，并使陀螺振型角处于自进动状态，直至振型角遍历陀螺谐振结构整个轴向；在振型角自进动的过程中，采集陀螺谐振结构在每个振型角位置的谐振频率，得到谐振频率数据集与振型角数据集；基于谐振频率数据集与振型角数据集进行辨识，得到陀螺谐振结构的频率裂解与刚度轴的位置，并基于辨识结果对陀螺谐振结构进行质量/刚度修调。本发明应用于陀螺谐振结构修调领域，通过自进动可实现对刚度轴位置以及频率裂解的快速精确辨识，从而显著提升修调效率，并且有效地避免了环境温度变化引起的频率漂移对频率裂解测量的影响。
谐振结构频率裂解辨识方法平台

[发明专利]一种复用芯片输出端口的可编程修调电路-CN201610769534.X有效
发明人：姜帆;陈利;刘玉山 -专利权人：厦门安斯通微电子技术有限公司
申请日： 2016-08-30 - 公布日： 2019-04-09 - 主分类号： H03K19/0185 文献下载
摘要：本发明公开了一种复用芯片输出端口的可编程修调电路，包括内部电路、复用端口模块、锁存模块、修调寻址模块、烧断控制模块、修调阵列模块；针对晶圆中测环节的修调方式的局限性，提供一种芯片成品测试环节的修调方法，在不增加芯片端口的情况下，将输出端复用为可编程修调端口，可节省封装成本，同时也提高对封装应力较敏感的特定芯片的参数精度和产品良率。
一种芯片输出端口可编程电路

[实用新型]修调电阻控制装置及使用该装置的晶圆测试系统-CN201320666753.7有效
发明人：王钊 -专利权人：无锡中星微电子有限公司
申请日： 2013-10-25 - 公布日： 2014-06-18 - 主分类号： H01L23/525 文献下载
摘要：本实用新型提供一种修调电阻控制装置及使用该装置的晶圆测试系统，其中，所述修调电阻控制装置包括：多个依次相连的电压源，相邻两个电压源之间通过各自的相同电极相连；多个依次串联的电容，每个电容与其对应的电压源并联；多个修调开关和多个探针；其中相连接的每两个电容的中间节点通过一个修调开关与一个探针相连，最外侧的电容的未与其他电容连接的连接端通过一个修调开关与一个探针相连。与现有技术相比，本实用新型中的修调电阻控制装置及其使用该装置的晶圆测试系统包括N个依次相连的电压源且相邻两个电压源之间通过各自的相同电极相连，使其可以同时熔断修调电阻中的多个熔丝，从而缩短晶圆测试时间。
电阻控制装置使用测试系统

[实用新型]一种基于无源晶振模拟有源晶振的电路-CN202120347438.2有效
发明人：秦亮;冯泽东;耿标;贺羽 -专利权人：国仪石油技术（无锡）有限公司
申请日： 2021-02-07 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： H03L7/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及晶振电路技术领域，尤其涉及一种基于无源晶振模拟有源晶振的电路，包括：无源晶振模块，用于输出波形；无缓冲反向模块，用于接收无源晶振模块输出的波形，输出单路有源波形，无缓冲反向模块输入端与无源晶振模块输出端电性连接；调波模块，用于输出可用晶振波形，调波模块输入端与无缓冲反向模块输出端电性连接。本实用新型有益效果在于：通过调波模块中的无源高通滤波器使输出波形相位和幅值可调，提高了设计电路的兼容性，使设计成本降低。
一种基于无源模拟有源电路

[实用新型]一种自动调整时间的时钟-CN201220042173.6有效
发明人：郑小良 -专利权人：郑小良
申请日： 2012-02-10 - 公布日： 2012-09-05 - 主分类号： G04G3/00 文献下载
摘要：一种自动调整时间的时钟，包括走时晶振和走时分频电路、时钟驱动线圈，所述的走时晶振输出端与走时分频电路输入端相连，还包括调时晶振和调时分频电路，所述的调时晶振的输出端和调时分频电路输入端相连，走时分频电路的输出端与调时分频电路的输出端通过二选一开关与所述的时钟驱动线圈的输入端相连，所述的调时分频电路的输出的信号频率大于所述的调时分频电路的输出信号的频率。本实用新型由于在走时通道的同时设置有调时通道，当切换到调时通道时，分针将较走时快很多倍，使时针和分针很快走到调整的预定区域，使调时自动进行。
一种自动调整时间时钟

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